研究 (Research)
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超高精度X線ミラーによる極限的XFEL集光と放射光X線イメージング (Extreme Focusing of XFEL and Synchrotron X-ray Imaging Using Ultra-Precise X-ray Mirrors)
助教 山田 純平（附属精密工学研究センター） YAMADA Jumpei (Research Center for Precision Engineering)
研究内容
ナノレベルの形状精度と原子レベルの表面粗さで作り込まれた鏡(ミラー)は「理想的なX線レンズ」として機能します。さらに独自のX線ミラー光学系を発案・実証することで、X線自由電子レーザー(XFEL)や高輝度放射光X線におけるナノ集光装置や高分解能X線顕微鏡の研究開発をしています。極限的サイズまで集光されたXFELは世界最高強度を誇り、非線形X線光学や単分子構造解析へと応用されます。X線ミラーを用いた独自の顕微鏡は、ナノスケール化学状態・元素分布の3次元観察が可能なツールとして触媒開発・デバイス診断に応用されます。
担当研究者
助教 山田 純平（附属精密工学研究センター）
キーワード
X線ミラー／X線自由電子レーザー／放射光X線／X線ナノ集光／X線顕微鏡
重点分野
計測分析技術／光・量子
応用分野
触媒・デバイス開発／非線形X線光学／蛋白質構造解析
論文・解説等
[1] J. Yamada et. al., Optica 7, 367-370 (2020).
[2] J. Yamada et al., IUCrJ 8, 713-718 (2021).
[3] 山田純平，Isotope News 781巻，28-31，2022年6月．