宇宙線起源ソフトエラーの評価と対策

取組要旨

半導体の高集積化・微細化が進み、ありとあらゆるところに集積回路が存在する現代において、半導体ソフトエラーは極めて重要な課題となっている。二次宇宙線に含まれる中性子とミューオンなどの放射線による誤動作は稀にしか起こらないとはいえ、半導体は社会インフラを支える電子機器の基盤となっているため、一度起こると致命的な障害を起こす。例えば、開発が盛んに行われている自動運転では、完全に集積デバイスに人命を預けることになり、誤動作のリスクは計り知れない。本プログラムでは、世界に先駆けて中性子とミューオンによるソフトエラーレート評価技術や対策を確立し、超スマート社会の安全を支えると共に、新たな基幹産業の創出をめざす。

研究成果・インパクト

高集積化・微細化をたどっている半導体において、放射線による誤動作は稀にしか起こらないが、これらは社会インフラを支える電子機器の基盤となっているため、いったん誤動作がおこると致命的な障害を起こすことになる。宇宙線起源の中性子やミューオンによるソフトエラーの正確な評価とそれに対する対策は、IoTやIoEの進展による超スマート社会の実現にとって喫緊の課題であり、大きな市場開拓の可能性を秘めた新たな価値である。インターネットに繋がるモノの数が飛躍的に増加すると予想される超スマート社会で、加速試験による品質管理は重要な一翼を担うと考えられる。

担当研究者

福田光宏、中野貴志（核物理研究センター）、情報科学研究科

キーワード

Society 5.0、超スマート社会、ソフトエラー、安全

応用分野

宇宙物理、原子核物理、電子工学、計算科学